PAT-CTG65 ikke-destruktiv lagtykkelsesmåler
Ikke-destruktiv belægning- og tør filmtykkelse (DFT) måleenhed til brug på jernholdige og ikke jernholdige metaloverflader
PAT-CTG65 er en lagtykkelsesmåler der anvender magnetisk induktion (jernholdig) eller hvirvelstrøm (ikke-jernholdig) til at foretage ikke-destruktive målinger af belægning- og tør filmtykkelse (DFT) på metaloverflader som fx stål og aluminium. Denne lagtykkelsesmåler er ideel til testning af malede og pulverlakerede overflader, malingsinspektion i bilindustrien, belægnings materiale måling og kvalitetskontrol i fremstillingsindustrien.
Den let anvendelige PC-kompatible software som er inkluderet, (skal downloades), med denne lagtykkelsesmåler muliggør detaljeret analyse af måleresultaterne via computer. Måleværdierne vises i en tabel og forskellige arbejdstilstande kan vælges til brug for datafiltrering. Statistikkerne inkluderer maksimum, minimum og gennemsnitlig værdi per arbejdsgruppe. Statistikker kan opdeles mellem jernholdige og ikke-jernholdige materialer. Softwaren tæller også hvor mange aflæsninger der er blevet gemt i hver materiale gruppe. Se manualen for yderligere detaljer.
– Inkluderer kalibreringsblokke for gør-det-selv præcisionstestning, en bæretaske til let transport og en et-årig garanti
– Valgfrit ISO-kalibreringscertifikat kan tilkøbes separat
– Tilbyder to målemetoder (jernholdig og ikke-jernholdig) med integrerede sensorer til komfortabel en håndsbrug
– Gemmer op til 1500 målinger i hukommelsen
– Leveres med USB-kabel og PC software (skal downloades) til detaljeret analyse af måleresultater via computer
TEKNISKE SPECIFIKATIONER | |
Ferrous metals | |
Principle | Magnetic induction |
Measuring range | 0 … 1350 µm / 0 … 53.1 mils |
Accuracy | 0 … 1000 µm: (±2.5 % ±2 µm) 1000 µm … 1350 µm: ±3.5 % 0 … 39.3 mils: (±2 % ±0.08 mils) 39.3 mils … 53.1 mils: ±3.5 % |
Resolution | 0 … 100 µm: 0.1 µm 100 µm … 1000 µm: 1 µm in 1000 mm … 1350 µm: 0.01 mm 0 … 10 mils: 0.01 mils 10 mils … 53.1 mils: 0 … 1 mils |
Smallest surface | Ø 7 mm / Ø 0.3 in |
Min. curvature radius | 1.5 mm / 0.05 in |
Min. substrate thickness | 0.5 mm / 0.02 in |
Non-ferrous metals | |
Principle | Eddy current |
Measuring range | 0 … 1350 µm / 0 … 53.1 mils |
Accuracy | 0 … 1000 µm: ±(2.5 % ±2 µm) 1000 µm … 1350 µm: ±3.5 % 0 … 39.3 mils: ±(2 % ±0.08 mils) 39.3 mils … 53.1 mils: ±3.5 % |
Resolution | 0 … 100 µm: 0.1 .mu.m 100 µm … 1000 µm: 1 µm in 1000 mm … 1350 µm: 0.01 mm 0 … 10 mils: 0.01 mils 10 mils … 53.1 mils: 0 … 1 mils |
Smallest surface | Ø 5 mm / Ø 0.2 in |
Min. curvature radius | 3 mm / 0.1 in |
Min. substrate thickness | 0.3 mm / 0.01 in |
Units | µm, mils |
Functions | Alarm function, display lighting, automatic shutdown, calibration, memory function |
Memory option | 30 storage groups with a capacity of 50 measurements each = 1500 measurements total |
Interface | USB |
Environmental conditions | 0 … 40°C / 32° F … 104°F, 20% … 90% rh |
Power supply | 2 x 1.5V AAA batteries |